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東北大学 先端電子顕微鏡センター The Electron Microscopy Center, Tohoku University (旧) 百万ボルト電子顕微鏡室 検索 検索 ホーム » 装置 ホーム ご挨拶 メンバー 装置 透過電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 FIB その他の装置 利用申請 業績 アクセス お問い合わせ マシンタイム 装置 種別装置名型式装置管理者 問合わせ 透過電子顕微鏡超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡FEI Titan G2 60-300 Cubed Double Correcter早坂 祐一郎 超高分解能収差補正型分析電子顕微鏡FEI Titan G2 60-300 Cubed Probe Corrector早坂 祐一郎 サブ・オングストローム高分解能分析透過電子顕微鏡FEI Titan80-300 Image Corrector早坂 祐一郎 走査電子顕微鏡高分解能・低加速電圧走査電子顕微鏡Hitachi Hitech SU-8000早坂 祐一郎 超高分解能走査電子顕微鏡Hitachi Hitech S-5500早坂 祐一郎 集束イオンビーム装置FIB/SEM 加工観察装置FEI-Quanta3D竹中 佳生 Powered by WordPress / Academica WordPress Theme by WPZOOM
