188BETの始め方

東北大学 先端電子顕微鏡センター The Electron Microscopy Center, Tohoku University (旧) 百万ボルト電子顕微鏡室 検索 検索 ホーム » 装置 » 透過電子顕微鏡 ホーム ご挨拶 メンバー 装置 透過電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 FIB その他の装置 利用申請 業績 アクセス お問い合わせ マシンタイム 透過電子顕微鏡 装置名称超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡ｼｽﾃﾑ超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡ｼｽﾃﾑサブ・オングストローム 高分解能 分析透過電子顕微鏡 Titan³™ 60-300 Double Corrector 　（FEI-Company）Titan³™ 60-300 Probe Corrector 　（FEI-Company）Titan™ 80-300 Image Corrector （FEI-Company） 電子銃FE電子銃(X-FEG) （加速電圧：60kV, 300kV） FE電子銃(X-FEG) （加速電圧：60kV, 300kV） FE電子銃 （加速電圧：80kV, 300kV） 観察機能球面収差補正装置 (Image & Probe Corrector)　球面収差補正装置 (Probe Corrector)　球面収差補正装置 (Image Corrector)　 TEM分解能 : 80pm 70 pm (MonoFiltered) TEM分解能 : 130pmTEM分解能 : 80pm (300kV) :130pm (80kV) STEM 高分解能 ; 70 pmSTEM 高分解能 ; 70 pmSTEM 高分解能 ; 135pm～140pm エネルギー分解能 ; 0.85eV, 0.3eV (Mono on) CCDカメラ Gatan UltraScan1000XP　CCDカメラ Gatan UltraScan1000XP　CCDカメラ Gatan MultiScan 　 分析機能EDSシステム Super-X EDSシステム super-X EDSシステム EDAX EELS システム 　Gatan GIF, Tridiem トモグラフィ TEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/元素マッピングTEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/元素マッピングTEM/STEM 明視野/暗視野/高分解能観察/電子回折/EDS分析/EF-TEM/EELS Powered by WordPress / Academica WordPress Theme by WPZOOM